本(ben)儀器(qi)(qi)是一種先進的測(ce)量(liang)介質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)（tgδ）和(he)電(dian)(dian)容(rong)容(rong)量(liang)（Cx）的儀器(qi)(qi)，用于工頻高(gao)(gao)壓下，測(ce)量(liang)各種絕緣(yuan)材料(liao)、絕緣(yuan)套管、電(dian)(dian)力電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、變壓器(qi)(qi)等高(gao)(gao)壓設備的介質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)（tgδ）和(he)電(dian)(dian)容(rong)容(rong)量(liang)（Cx）。它淘汰了QSI高(gao)(gao)壓電(dian)(dian)橋，具有操作簡單(dan)、中文顯(xian)示(shi)、打印、使(shi)用方便、無需換(huan)算、自帶高(gao)(gao)壓，抗(kang)干擾能(neng)力強， 測(ce)試時間短等優點另外,本(ben)儀器(qi)(qi)針對電(dian)(dian)容(rong)式(shi)電(dian)(dian)壓互感器(qi)(qi)CVT試驗困難的特(te)點,增設了外接(jie)(jie)法測(ce)試,外接(jie)(jie)標準電(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)、調壓器(qi)(qi),使(shi)得測(ce)試非常(chang)簡單(dan)可靠。

TGJS-2抗干擾介質損耗測試儀產(chan)品特性：

智能化抗(kang)干擾介質損耗測(ce)試儀測(ce)量線路(lu)包括(kuo)一路(lu)標準回路(lu)和一路(lu)測(ce)試回路(lu)：

1、標(biao)準(zhun)回(hui)(hui)路(lu)(lu)由內置高壓穩定度(du)標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容(rong)器與(yu)標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)阻(zu)網絡組成，由計算機實時(shi)采集標(biao)準(zhun)回(hui)(hui)路(lu)(lu)電(dian)(dian)流(liu)與(yu)測試(shi)回(hui)(hui)路(lu)(lu)的電(dian)(dian)流(liu)幅值及其相(xiang)位差(cha)，并由之算出被(bei)測試(shi)品電(dian)(dian)容(rong)容(rong)值（CX）和其介質損耗(hao)（tgδ）。

2、數(shu)據(ju)(ju)采集電路(lu)全部采用高壓穩定器(qi)件，采集板和采集計(ji)算機(ji)(ji)被(bei)鐵盒完全浮空(kong)(kong)屏蔽(bi)，儀器(qi)外殼(ke)地(di)屏蔽(bi)；另(ling)外使用了光導數(shu)據(ju)(ju)、浮空(kong)(kong)地(di)、大面積地(di)、單點地(di)、數(shu)字濾(lv)波等抗(kang)干擾技(ji)術，加(jia)之(zhi)計(ji)算機(ji)(ji)對數(shu)百(bai)個電網(wang)周期的數(shu)據(ju)(ju)進行處理，使測量結果穩定、**、可(ke)靠(kao)。

TGJS-2抗干擾(rao)介質損耗測(ce)試(shi)儀技術參數：

1、環境(jing)：-5℃～40℃（液(ye)晶屏應避免長(chang)時間(jian)日照） PH<80%；

2、相對濕(shi)度(du)：30%～70% ；

3、供電(dian)電(dian)源：電(dian)壓：220V±10%，頻率50±Hz；

4、外形(xing)尺(chi)寸(cun)：長*寬*高=435mm*300mm*300mm；

5、重(zhong)量：20kg ；

6、輸(shu)出(chu)功率：1KVA ；

7、顯示(shi)分(fen)辨率：3位(wei)、4位(wei)（內部全是6位(wei)）；

8、測試方法(fa)：正接法(fa)、反接法(fa)、外接法(fa)；

9、測(ce)量范圍(wei)：內接(jie)試驗(yan)電壓：≤60000PF

外(wai)接試驗電壓：≤10μF ；

10、基本測(ce)量誤差： 介(jie)質(zhi)損耗（tgδ）：2%±0.09%

    &nbsp;    ;         　　　　　　　電(dian)容容量 （Cx）：1.5%±2PF

TGJS-2抗干擾介質損耗測試儀產品別名：

抗干擾介質(zhi)損(sun)耗測試(shi)(shi)儀(yi)、異頻介質(zhi)損(sun)耗測試(shi)(shi)儀(yi)、介質(zhi)損(sun)耗測試(shi)(shi)儀(yi)、介損(sun)儀(yi)

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