一、引(yin) 言

變壓(ya)器在制造或大修(xiu)過程(cheng)中?按有關標準要求?半成(cheng)品及成(cheng)品必須進行變比測試。變比測試原理主(zhu)要有雙電壓(ya)表法和電橋法兩種。前者比較(jiao)簡單(dan)?但(dan)精(jing)(jing)度較(jiao)差；后(hou)者結構與操作較(jiao)復雜?但(dan)精(jing)(jing)度很好。

目前國內的(de)(de)變(bian)比測試儀產品(pin)研制現狀是：采用雙電壓(ya)表原理的(de)(de)變(bian)比測試儀?從九十年代(dai)起(qi)已(yi)逐(zhu)步有帶微處理器的(de)(de)智能(neng)化產品(pin)上市(shi)?但精度(du)和穩(wen)定性(xing)差(cha)?基本達不(bu)到要求；而采用電橋(qiao)法原理的(de)(de)變(bian)比測試儀?還停留在人工(gong)平(ping)衡的(de)(de)電工(gong)型儀器的(de)(de)水(shui)平(ping)?即(ji)操作(zuo)繁瑣、功能(neng)少、安全性(xing)差(cha)、技術水(shui)平(ping)落后的(de)(de)狀態。

針對(dui)這(zhe)種情況?我們在電橋法原理的基(ji)礎上?攻克了一些(xie)技(ji)術關鍵?用微處理器實現了電橋的自(zi)動(dong)平衡(heng)?并充分發(fa)揮了微處理器的強大功能。我們研制的變比測(ce)試儀具有(you)對(dui)數據(ju)自(zi)動(dong)處理、存儲、顯示(shi)、打印、通(tong)訊及(ji)對(dui)測(ce)試過程(cheng)異(yi)常情況自(zi)動(dong)報警、自(zi)動(dong)保護等特點。這(zhe)些(xie)智能化(hua)特點是(shi)電工型儀器產品無法相(xiang)比的。

該(gai)成果經國內(nei)專家鑒定?認為具(ju)有國內(nei)**水平(ping)?可與(yu)國外(wai)同(tong)類(lei)產品相媲美(mei)?并(bing)獲機電(dian)部科技進步獎及實用新型**。該(gai)成果現(xian)已轉化為批(pi)量產品?在國內(nei)許(xu)多變壓器制造廠與(yu)電(dian)業(ye)系統得到廣泛應用?還遠(yuan)銷越南、臺(tai)灣、香港等(deng)國家與(yu)地(di)區。

該產(chan)(chan)品能滿足(zu)各種單相、三相變(bian)(bian)(bian)壓(ya)器(qi)變(bian)(bian)(bian)比測試的(de)要求?特別適宜裝(zhuang)備各大(da)中小型變(bian)(bian)(bian)壓(ya)器(qi)生產(chan)(chan)廠及變(bian)(bian)(bian)壓(ya)器(qi)檢修單位?完全(quan)可替代(dai)國外(wai)同類(lei)產(chan)(chan)品?且價(jia)格(ge)低廉(lian)。

下面重點(dian)介紹該變比測試儀的功能(neng)、原理與設計(ji)特點(dian)。

二(er)、主要技術指(zhi)標與功能(neng)

1?變比測(ce)量范圍：1?000～1000；

2?偏差范(fan)(fan)圍：儀器能自(zi)動計算實測(ce)變(bian)比(bi)對理論變(bian)比(bi)的(de)偏差值?其(qi)范(fan)(fan)圍為(wei)±19?9％；

3?測量誤差：不(bu)大于0?1％＋3個(ge)字；

4?測量(liang)時間：儀器在測量(liang)過(guo)(guo)程(cheng)中?自動判定高(gao)低壓的正確性(xing)?自動處理極性(xing)正反(fan)?并自動平(ping)衡電橋?整(zheng)個(ge)過(guo)(guo)程(cheng)小于(yu)4秒(miao)；

5?聯(lian)接(jie)組選擇：儀器能適用任何聯(lian)接(jie)組的變壓器?能滿(man)足 IEC／VDE、ANSI／IEEE 國(guo)際標準及(ji)國(guo)家標準（GB）等對聯(lian)接(jie)組的規范；

6?分(fen)接(jie)點(dian)：多(duo)達十九個分(fen)接(jie)點(dian)?各分(fen)接(jie)點(dian)的分(fen)接(jie)值(zhi)可任意設置；

7?自動存儲各相、各分接點的測試結果?

可逐(zhu)點打印或成批打印輸出；

8?能(neng)自動(dong)切換正反極性；

9?具有高低壓(ya)繞組接反報(bao)警與保護功(gong)能(neng)。

三、工作原理

1?電橋(qiao)原理

電橋(qiao)法變比(bi)測(ce)量(liang)基本原理如(ru)圖1a 所示。

圖(tu)1a 中(zhong) ?T N 為(wei)(wei)可調變比的標準(zhun)電(dian)壓(ya)互感器 ?T X 為(wei)(wei)被(bei)(bei)測試變壓(ya)器 ?U0 為(wei)(wei)激(ji)勵電(dian)壓(ya) ?˙UN為(wei)(wei)電(dian)橋平衡回路的標準(zhun)側(ce)電(dian)壓(ya) ?˙UX 為(wei)(wei)被(bei)(bei)試側(ce)

電壓(ya)?Δ˙U 為差值電壓(ya)。其關系為Δ˙U＝˙UX－˙UN （1）

矢量(liang)關系如(ru)圖1b 所示(shi)。

調(diao)節 T N 的(de)變比?可使電橋平衡?即滿足｜Δ˙U｜·cosα＝0 （2）

此時 KN＝KX （3）

式中?KN、KX 分別為 T N、T X 的變比。

這就是電橋法測量變比(bi)的基(ji)本原(yuan)理。

圖(tu)2為變比(bi)儀電橋回路原理(li)圖(tu)。

圖中?由互(hu)感(gan)器 PT1、PT2 組(zu)成(cheng)的互(hu)感(gan)器組(zu)相當于圖1a 中的 T N?即電橋(qiao)平衡回(hui)路中的標準側；互(hu)感(gan)器 PT3 與被試變壓器 T X 組(zu)合起來相當于圖1a 中的

T X?即平(ping)衡回路的(de)(de)被(bei)試(shi)側(ce)。開(kai)(kai)關(guan) SW1 由(you)多個繼電(dian)器(qi)(qi)(qi)組成?受微(wei)處理(li)器(qi)(qi)(qi)控(kong)制?實現電(dian)橋(qiao)(qiao)標準側(ce)變(bian)(bian)(bian)比(bi)的(de)(de)調節(jie)；開(kai)(kai)關(guan) SW2 用于(yu)切(qie)(qie)(qie)換(huan)極性正反?也由(you)微(wei)處理(li)器(qi)(qi)(qi)自動切(qie)(qie)(qie)換(huan)；開(kai)(kai)關(guan) SW3 用于(yu)變(bian)(bian)(bian)比(bi)測(ce)量范(fan)圍切(qie)(qie)(qie)換(huan)：當(dang)變(bian)(bian)(bian)比(bi)為1～10時?SW3 處于(yu)圖(tu)中Ⅰ位；變(bian)(bian)(bian)比(bi)為10～100時?SW3 處于(yu)Ⅱ位；變(bian)(bian)(bian)比(bi)為100～1000時?SW3處于(yu)Ⅲ位?由(you)微(wei)處理(li)器(qi)(qi)(qi)自動切(qie)(qie)(qie)換(huan)。開(kai)(kai)關(guan) SW4、SW5 分別(bie)為聯接(jie)組高(gao)壓(ya)(ya)側(ce)、低壓(ya)(ya)側(ce)選擇開(kai)(kai)關(guan)?由(you)操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)根據被(bei)試(shi)變(bian)(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)聯接(jie)組別(bie)進行(xing)人(ren)工切(qie)(qie)(qie)換(huan)?即使被(bei)測(ce)變(bian)(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)是三(san)相變(bian)(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)?儀器(qi)(qi)(qi)通過開(kai)(kai)關(guan) SW4?SW5 后(hou)?每次(ci)只對某(mou)一相進行(xing)變(bian)(bian)(bian)比(bi)測(ce)試(shi)。SW6 的(de)(de)作(zuo)用是：當(dang)進行(xing)變(bian)(bian)(bian)比(bi)測(ce)試(shi)時?SW6 閉合?給電(dian)橋(qiao)(qiao)標準側(ce)與被(bei)測(ce)試(shi)側(ce)提供加載(zai)電(dian)壓(ya)(ya)U0 ；電(dian)橋(qiao)(qiao)平(ping)衡后(hou) SW6 斷開(kai)(kai)?切(qie)(qie)(qie)斷加載(zai)電(dian)壓(ya)(ya)?使操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)在(zai)改換(huan)被(bei)試(shi)變(bian)(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)端子(zi)時?不(bu)會帶電(dian)操(cao)作(zuo)?確保(bao)安全。

PT1、PT2、PT3 與 T X 的變比分(fen)別(bie)為(wei)K1、K2、K3 與KX ?當(dang)電橋平衡時?

根據公式（3）可得K1·K2＝K3·KX （4）

KX ＝K1·K2K3（5）

2?儀器硬件總原理

圖3為(wei)變比(bi)儀硬件總原理框圖。

虛線框(kuang)內為變比(bi)儀(yi)電橋(qiao)回路（見(jian)圖2）?微(wei)處理(li)器(qi)(qi)由 CPU、RAM、ROM、時鐘等部(bu)分(fen)組(zu)成?為該儀(yi)的(de)(de)(de)核心(xin)。在(zai)軟件的(de)(de)(de)控制下?實現自(zi)動測試、數(shu)(shu)據處理(li)等功能(neng)。微(wei)處理(li)器(qi)(qi)經過輸(shu)入(ru)(ru)接(jie)口從儀(yi)器(qi)(qi)面板上的(de)(de)(de)鍵盤及有關開關獲(huo)得操(cao)作人員的(de)(de)(de)有關操(cao)作命(ming)令(ling)、輸(shu)入(ru)(ru)參數(shu)(shu)等信息?并(bing)經過輸(shu)出(chu)接(jie)口?將處理(li)的(de)(de)(de)結(jie)果送給數(shu)(shu)碼顯示器(qi)(qi)、訊響器(qi)(qi)及打印機?實現人機信息交換。這是智能(neng)化(hua)儀(yi)器(qi)(qi)*基本的(de)(de)(de)部(bu)分(fen)。

屬于該變比儀特有的(de)(de)(de)(de)內容為(wei)(wei)：在(zai)(zai)電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)前(qian)?微(wei)(wei)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)器(qi)要(yao)控(kong)制電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)并輸(shu)入有關(guan)電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)回路(lu)的(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號?判定(ding)高低壓的(de)(de)(de)(de)正(zheng)確(que)性及極性的(de)(de)(de)(de)正(zheng)反?并作出(chu)(chu)進(jin)(jin)行(xing)報警保護或進(jin)(jin)行(xing)電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)過程(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)(de)選(xuan)擇；在(zai)(zai)電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)過程(cheng)(cheng)中(zhong)?微(wei)(wei)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)器(qi)要(yao)不(bu)斷(duan)地輸(shu)入電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)回路(lu)的(de)(de)(de)(de)當(dang)時狀(zhuang)態(tai)?并不(bu)斷(duan)地修正(zheng)電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)標準側的(de)(de)(de)(de)變比使電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)趨于平(ping)(ping)衡(heng)(heng)?反復此過程(cheng)(cheng)?直(zhi)至電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)?獲得(de)變比KN ；在(zai)(zai)電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)后?微(wei)(wei)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)器(qi)要(yao)采集開(kai)關(guan) SW4?SW5 的(de)(de)(de)(de)狀(zhuang)態(tai)?了解(jie)聯接(jie)(jie)組(zu)的(de)(de)(de)(de)選(xuan)擇?進(jin)(jin)行(xing)數(shu)據(ju)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)?求出(chu)(chu)KX、偏差值等結果。這三個過程(cheng)(cheng)中(zhong)?微(wei)(wei)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)器(qi)需要(yao)輸(shu)入電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)狀(zhuang)態(tai)的(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號有模擬量(liang)˙UN、˙UX、Δ˙U 及開(kai)關(guan)量(liang) SW4、SW5?需要(yao)輸(shu)出(chu)(chu)控(kong)制電(dian)橋(qiao)(qiao)(qiao)的(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號全部為(wei)(wei)開(kai)關(guan)量(liang)SW1、SW2、SW3、SW6。除模擬量(liang)需經過模擬量(liang)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)電(dian)路(lu)轉(zhuan)換為(wei)(wei)數(shu)字量(liang)后再經輸(shu)入接(jie)(jie)口(kou)傳給微(wei)(wei)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)器(qi)外?其他開(kai)關(guan)量(liang)信(xin)(xin)號均直(zhi)接(jie)(jie)經輸(shu)入、輸(shu)出(chu)(chu)接(jie)(jie)口(kou)與微(wei)(wei)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)(li)器(qi)總線(xian)相連。

3?儀器軟件總框圖

儀器軟件(jian)總框(kuang)圖如圖4所示。

圖(tu)4 儀器軟(ruan)件總框圖(tu)從軟(ruan)件總框圖(tu)中可以看出?軟(ruan)件是由四塊(kuai)功能模塊(kuai)組成。

（1）調試狀態功能(neng)(neng)模(mo)塊。是儀(yi)(yi)器(qi)(qi)的(de)輔助部分(fen)?含有(you)各(ge)輸入、輸出(chu)接口獨立操作的(de)控制功能(neng)(neng)及各(ge)輸出(chu)設備(bei)演示檢測功能(neng)(neng)等。便(bian)于調試或(huo)維修(xiu)人員能(neng)(neng)方便(bian)地判斷儀(yi)(yi)器(qi)(qi)是否正常工作?或(huo)判斷儀(yi)(yi)器(qi)(qi)故障所在(zai)部位。在(zai)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)做老化試驗時?還能(neng)(neng)提供一個模(mo)擬儀(yi)(yi)器(qi)(qi)各(ge)種運(yun)行狀態的(de)循環動作?從而(er)提高試驗的(de)質(zhi)量。這是智能(neng)(neng)化儀(yi)(yi)器(qi)(qi)優于其他常規儀(yi)(yi)器(qi)(qi)的(de)一大特點(dian)。

（2）參(can)(can)數(shu)(shu)輸(shu)入(ru)(ru)功能模塊為儀器(qi)(qi)提供一個參(can)(can)數(shu)(shu)輸(shu)入(ru)(ru)狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)。在此(ci)狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)下?操作(zuo)人員通過面板上(shang)的(de)鍵盤?輸(shu)入(ru)(ru)被試變壓器(qi)(qi)的(de)額(e)定(ding)變比、要測試的(de)分接(jie)點號、分接(jie)點值(zhi)（若是等(deng)分接(jie)變壓器(qi)(qi)還(huan)可(ke)(ke)輸(shu)入(ru)(ru)分接(jie)級值(zhi)）等(deng)參(can)(can)數(shu)(shu)?供儀器(qi)(qi)結果處(chu)理(li)、顯示和打印輸(shu)出時用。儀器(qi)(qi)可(ke)(ke)由(you)該(gai)狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)進入(ru)(ru)測試狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)與存儲值(zhi)顯示狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)。也可(ke)(ke)由(you)測試狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)、存儲值(zhi)顯示狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)或(huo)開(kai)機(ji)復位進入(ru)(ru)該(gai)狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)(tai)。

圖5 測(ce)試狀態(tai)流程圖

（3）測試狀態模塊是(shi)儀器(qi)*核心的(de)模塊。其(qi)功能有判定高低壓接反、判定極性、判定KX越限、控(kong)制電(dian)橋平衡、*終得出(chu)被試變壓器(qi)的(de)KX 、偏(pian)差等(deng)結果、顯(xian)示、存儲并可根據需要打印輸出(chu)等(deng)內容。其(qi)流(liu)程見圖5。

（4）存儲值顯示狀態功能模塊(kuai)。在該狀態下?操作人員可(ke)通(tong)過鍵盤逐個(ge)調出每(mei)相、各分(fen)接點(dian)的測試結(jie)果(guo)顯示于數碼(ma)窗?并可(ke)通(tong)過打印(yin)機成批輸(shu)出。

四、設(she)計特點

圖(tu)(tu)6 組合式濾波(bo)器(qi)原理框圖(tu)(tu)變比儀是一臺既復雜又精密的電(dian)子儀器(qi)?雖然主要分為(wei)硬件(jian)和軟(ruan)件(jian)兩大部分?但(dan)設計內容很多。由于篇幅所限?這里只簡單介紹幾個較為(wei)特殊的設計特點(dian)。

1?電橋回路(lu)

該儀器(qi)(qi)電橋回路采(cai)用互感器(qi)(qi) PT1 與(yu)(yu) PT3 來(lai)實現被試(shi)變(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)高(gao)壓(ya)(ya)側與(yu)(yu)低壓(ya)(ya)側回路電的隔離?使儀器(qi)(qi)能(neng)安全地測(ce)試(shi)各種高(gao)壓(ya)(ya)側、低壓(ya)(ya)側不隔離的變(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)（如自耦變(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)）?解決了其他變(bian)比(bi)儀存在的測(ce)試(shi)這(zhe)種變(bian)壓(ya)(ya)器(qi)(qi)時可能(neng)造成的U0 短路問題。

電橋電路中的(de)(de) PT2 是(shi)個(ge)關鍵的(de)(de)精密互感器?為(wei)滿(man)足(zu)足(zu)夠的(de)(de)分(fen)辨力(li)?該互感器必須(xu)有相當多(duo)的(de)(de)繞組?但為(wei)使電橋能迅速達到(dao)平衡?其繞組又不宜太(tai)多(duo)；再考慮到(dao)微處理器軟件處理的(de)(de)方便?故對儀器的(de)(de) PT2 采(cai)用了二進制的(de)(de)繞組分(fen)布(bu)?其匝(za)數(shu)分(fen)別為(wei)20?2－1?……2－15。*差(cha)的(de)(de)分(fen)辨力(li)為(wei)2－16×10≈0?015％

0?015％遠小于(yu)0?1％?能(neng)滿(man)足精度的要求?且繞(rao)組(zu)又不(bu)算多。

2?Δ˙U 信(xin)號通道

Δ˙U 是電橋(qiao)的差值信號?它反映電橋(qiao)失(shi)衡狀(zhuang)況?是儀器中*關鍵的信號。設計中考慮了以下(xia)兩點。

（1）足夠的(de)增益(yi)?以保(bao)證電(dian)橋的(de)靈敏度。當(dang)電(dian)橋平衡時?Δ˙U 可(ke)能會小(xiao)到接近零的(de)程度?*小(xiao)的(de)｜Δ˙U ｜＜U0／K1 ×2－16?屬(shu)于幾(ji)十μV 級的(de)信號?必須有足夠的(de)增益(yi)將此放大到后級能處理的(de)程度。

（2）濾波(bo)處理(li)。由于被試(shi)變壓器(qi)鐵磁(ci)材料的(de)(de)非線性因素?˙UX 相(xiang)對于˙UN 會產生一定的(de)(de)失真?當電(dian)(dian)橋平(ping)衡(heng)時?˙UX 、˙UN 的(de)(de)基波(bo)幾乎被抵消(xiao)?在(zai)Δ˙U 中將(jiang)剩下(xia)豐富的(de)(de)諧波(bo)成(cheng)份?會干擾微(wei)處理(li)器(qi)對電(dian)(dian)橋失衡(heng)方(fang)向及程度上的(de)(de)正確判斷(duan)?而影響正確控制電(dian)(dian)橋平(ping)衡(heng)?造(zao)成(cheng)較大(da)的(de)(de)測試(shi)誤差。為此(ci)必須對Δ˙U 進行高(gao)質(zhi)量的(de)(de)濾波(bo)。儀(yi)器(qi)采用了組合式濾波(bo)電(dian)(dian)路?如圖6a 所示(shi)。

圖(tu)6a 中(zhong)?①、②級為帶阻濾(lv)(lv)波(bo)器(qi)(qi)?分別吸(xi)收2ωt ?3ωt 諧波(bo)；第③級為帶通濾(lv)(lv)波(bo)器(qi)(qi)?只通過50Hz 基波(bo)信(xin)號?并對高(gao)次諧波(bo)進一步衰減。這三級組合(he)成的幅頻特(te)性如圖(tu)6b 所示(shi)。為保證(zheng)較好的選頻特(te)性?這三級濾(lv)(lv)波(bo)器(qi)(qi)單元(yuan)均選用(yong)二階高(gao)Q 有源濾(lv)(lv)波(bo)電路?該組合(he)濾(lv)(lv)波(bo)器(qi)(qi)對3ωt 以上(shang)諧波(bo)抑制比不小(xiao)于38dB?證(zheng)明效果很好。

帶(dai)阻濾波(bo)器單元電路(lu)如圖(tu)7所示。

3?軟件(jian)部分

為減少內(nei)存(cun)開銷?提高軟件(jian)可靠性及可擴展(zhan)性?軟件(jian)設(she)計時?采(cai)用了模塊化(hua)(hua)結構(gou)?并采(cai)取了冗余、陷(xian)井等抗干(gan)擾及時序(xu)優(you)化(hua)(hua)等技術(shu)對策?這些是智能(neng)化(hua)(hua)儀器(qi)的基本措施。除此之外?儀器(qi)還有它自己的特性。

（1）電(dian)橋失衡方(fang)向的鑒(jian)別(bie)方(fang)法前面已經談過 ?電(dian)橋平(ping)衡條件(jian)是(shi)滿(man)足公式

（2） ?電橋失衡(heng)時 ?可根據｜Δ˙U｜·ccosα＞0或｜Δ˙U｜·cosα＜0?即可代表(biao)其失衡(heng)的(de)方向?這是微處理器*關心的(de)信息。

Δ˙U 可用(yong)時域的函數來表達(da)?即

Δu ＝ 2｜Δ˙U｜·sin（ωt ＋α） （6）

用ωt ＝π2代入式（6）?得ΔU｜π2＝ 2｜Δ˙U｜·cosα （7）

根(gen)據式（7）我們可以在π2時?對ΔU 進行瞬時值采樣?而獲(huo)得(de)與Δ˙U 同相分量(liang)成線(xian)性(xing)關(guan)系的信號(hao)(hao)(hao)?再根(gen)據此信號(hao)(hao)(hao)的符號(hao)(hao)(hao)就(jiu)可鑒(jian)別出(chu)電橋失衡的方向。有關(guan)更詳細(xi)地論述見參考文獻

［3］?這是變比儀控制電橋平衡的關鍵。

（2）電橋(qiao)平衡(heng)過(guo)程(cheng)控制

 電橋平衡的控制過程?類(lei)同許多高速 A／D轉換器的逐位(wei)逼近過程。如(ru)圖8所示。

首先(xian)?微處理器(qi)通過(guo)(guo)開關(guan) SW1 送出(chu)*高(gao)位(wei)?緊(jin)接著微處理器(qi)采集(ji)ΔU｜π2?并判(pan)定電橋失(shi)衡(heng)方向?決定該位(wei)保留還是(shi)**；然后送出(chu)下一位(wei)進行上(shang)述(shu)(shu)過(guo)(guo)程。這樣逐位(wei)處理后?使電橋逐漸趨平衡(heng)?直至*低(di)位(wei)處理完畢?即完成電橋平衡(heng)控(kong)制的全部過(guo)(guo)程。根(gen)據上(shang)述(shu)(shu)各位(wei)的狀態?即可求得KN ?進而再去求KX 。

（3）系統通(tong)迅功能

本儀(yi)器(qi)與(yu)國外(wai)多(duo)數智能化儀(yi)器(qi)一樣?備有系(xi)統通訊擴展功能?使儀(yi)器(qi)可以與(yu)上(shang)(shang)位(wei)(wei)機直接聯(lian)接?或(huo)通過掌上(shang)(shang)機作(zuo)為媒介與(yu)上(shang)(shang)位(wei)(wei)機聯(lian)接?進行(xing)數據(ju)交換?為儀(yi)器(qi)方便地進入各種測試 、控制、管理網絡系(xi)統創造了條件。

（4）其 他(ta)

本變比(bi)儀為適用于國內(nei)、國外用戶在現場或實驗室使用?在結構上(shang)采(cai)用了(le)加強型(xing)標準機(ji)箱?面(mian)板(ban)采(cai)用了(le) PVC 面(mian)膜加觸摸鍵(jian)?面(mian)板(ban)與背板(ban)上(shang)的(de)標注注意了(le)國標、IEC、ANSI 等標準的(de)兼容 。為保證數據穩定可靠(kao)?故障率低?儀器的(de)主要元(yuan)器件采(cai)用了(le)國外有名公(gong)司或國內(nei)**企業的(de)產品?并經(jing)過嚴格地工藝老化篩選。

五、結(jie)束語

智(zhi)能(neng)化變(bian)(bian)比儀盡管功能(neng)和(he)性能(neng)超(chao)過(guo)常(chang)規(gui)的(de)變(bian)(bian)比儀?但操作卻變(bian)(bian)得(de)更(geng)簡單、更(geng)直觀?變(bian)(bian)比測(ce)試因此變(bian)(bian)得(de)輕(qing)松自(zi)如?數(shu)據更(geng)加(jia)準確?報告變(bian)(bian)得(de)更(geng)加(jia)規(gui)范?這反映了智(zhi)能(neng)化儀器的(de)共性。由于篇幅(fu)的(de)原(yuan)因?以上介紹的(de)僅是輪廓?加(jia)之(zhi)水平與時間的(de)限(xian)制?謬(miu)誤(wu)肯(ken)定存在(zai)?望得(de)到同(tong)行的(de)指教(jiao)。